品質工程対応型インサーキットテスタ:
WTX-3000

WTX-3000は、従来困難であったBGA、CSPパッケージのオープン検出を可能とする MAP Test及び、データバス回路の接続不良を検出する Bus Diff Test を標準装備しています。また、新開発のデジタル位相分離測定によるCRL複合回路の測定など、広い不良検出範囲を実現しています。さらに不良部品の位置表示や測定データの集計記録も標準機能とし、今日の品質工程基準に対応しております。プレス機構においてもエアー設備不要の電動ソフトプレスの開発でプリント基板へのストレスを最小限に抑えた高水準、高信頼型インサーキットテスタを提供いたします。

IC足浮き検出標準装備 高信頼テスト 不良部品の位置表示 品質管理工程対応 電動ソフトプレス ネットワーク管理 ピン位置データの表示 ピンサーチ音声出力 ダブルプレス（OP) 階層パスワード		リレー動作確認 標準自己診断機能（OP) ケルビンコネクション 連続不良警告 不良位置のプリンタ出力 合格スタンプ（OP) ワンタッチレシーバ（OP) エアープレスユニット（OP)

IC 浮き足検出標準装備		不良部品の位置表示

品質管理工程対応		電動ソフトプレス

ピン位置データの表示